颗粒跟踪分析仪相关理论及性能

平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率，可以得到zeta电位。

纳米粒子跟踪分析（NTA）和动态光散射（DLS）

所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的zui低检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其zui低检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，颗粒跟踪分析仪可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。

 

颗粒跟踪分析仪测量范围

测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。

源于视频分析的颗粒计数

颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的zui小浓度为105粒子/cm3，zui大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒，zui大体积浓度为1000ppm。

 

颗粒跟踪分析仪特点 - 全自动和无源稳定性

自动校准程序会持续工作，即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均，就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择：粒径，zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个插入式的盒子中，盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。

自动扫描，zui多可达100个子体积；

自动聚焦；

小巧，便于携带；

防震动；

光源从紫外线到红光；

插入式样品池；