颗粒粒径分析仪测量范围以及理论资料

 

　　颗粒分析仪与目前常用的颗粒分析技术相比，不仅能够测定颗粒的大小和数量，还能测量粒子的形状、形态，对于颗粒组成、结构、来源的分析有重要作用。

 

　　颗粒分析仪可以全面客观的反应颗粒的粒径、粒型的全面量化参数，并且可以给出其他分析方法的对应报告结果（沉降法、电阻法、激光法）达到一机多用的作用。该仪器可为微粉、磨料、金刚石、碳化硅、光伏等生产加工企业提供良好的产品质量信息和生产工艺的。

 

　　颗粒跟踪分析仪理论：

 

　　平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率，可以得到zeta电位。

 

　　纳米粒子跟踪分析（NTA）和动态光散射（DLS）

 

　　所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的zui低检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其zui低检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，颗粒跟踪分析仪可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。

 

　　颗粒跟踪分析仪测量范围

 

　　测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。

 

　　源于视频分析的颗粒计数

 

　　颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的zui小浓度为105粒子/cm3，zui大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒，zui大体积浓度为1000ppm。

 

　　颗粒跟踪分析仪特点 - 全自动和无源稳定性

 

　　自动校准程序会持续工作，即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均，就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择：粒径，zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个插入式的盒子中，盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。

 

　　颗粒分析仪型号量程及性能特点：

 

　　1、全自动激光粒度仪操作简便，测试全程自动化，从分散介质的加入、超声、搅拌、到数据采集、测试输出、清洗等过程均可自动完成。

 

　　2、激光粒度仪采用湿法测试方式，超声、搅拌分散，超声、搅拌时间可自由设定。

 

　　3、粒度仪测试软件设计人性化，界面友好，测试操作即学即会。

 

　　4、粒度仪应用全程米氏散射理论，使测试结果更加真实可信。

 

　　5、颗粒分析仪的浓度指示系统，有效的降低了人为误差对测试结果的影响。

 

　　6、激光粒度分析仪采用自行设计的40路光电探测器，使测试精度更高。

 

　　7、颗粒分析仪提供包括粒径范围、分布百分比、累积百分比、比表面积、平均粒径、分布曲线、累积曲线、D50、D10、D90等全面分析统计结果。

 

　　8、便携式设计，体积更小、重量更轻。

 

　　颗粒粒径分析仪在监测和评估过滤器的效率，定量监测出水颗粒物，监测和控制有害病原微生 物等方面提供准确、及时的参考依据，可以保证饮水安全性，优化生产工艺，提高出水水质，节约生产成本。

 

　　颗粒粒径分析仪是迄今为止功能zui全、分辨率zui高的颗粒计数及粒度分析仪。粒径分析仪在做粉体测试时，粉体需*分散在*体内，而且要非常稀释，通常粉体的能量是0.1vol%以下。由于粉体相互干扰，或透光强度减弱，测量结果的正确性可能有问题。通常使用液体当粉体的分散媒体，如果粉体非常细，有时也用空气当分散媒体。

 

　　粉体在粒径分析时，*分散在媒体中非常重要，粉体不能集聚在一团，以致仪器误认做单个粉体。通常当粉体分散在媒体中时，都加少量的分散剂，并放在超声波振荡器中充分震荡，使粉体*分散，常用的分散剂是焦磷酸钠，带很多电荷的焦磷酸根吸附于粉体表面，使每颗粉体产生很强的相互排斥力而彼此分开。

 

　　颗粒粒径分析仪可在工业场所实时测量颗粒物浓度和粒径，并可提供各种附件以满足不同的监测和粒径分析的需要，直接使用现有的过程控制装置计算制造过程趋势和在线修正产品，代替或补充传统颗粒测量的筛分方法。该仪器检查和分析颗粒粒径分布，粒径范围40m至40mm，使用一个电荷耦合照相机快速捕获图像。在照相机的可视区给料装置提供持续不变的产品流。对材料进行特殊的照明使得照相机能够捕捉到粒状产品的勾边图像，然后数字图像被输送到中央处理器pola-3000软件进行数据分析，并提供详细的统计过程控制信息，用来解释和分析颗粒粒径分布。

 

　　颗粒粒径分析仪可在工业场所实时测量颗粒物浓度和粒径，并可提供各种附件以满足不同的监测和粒径分析的需要，直接使用现有的过程控制装置计算制造过程趋势和在线修正产品，代替或补充传统颗粒测量的筛分方法。

 

　　该仪器检查和分析颗粒粒径分布，粒径范围40m至40mm，使用一个电荷耦合照相机快速捕获图像。在照相机的可视区给料装置提供持续不变的产品流。对材料进行特殊的照明使得照相机能够捕捉到粒状产品的勾边图像，然后数字图像被输送到中央处理器pola-3000软件进行数据分析，并提供详细的统计过程控制信息，用来解释和分析颗粒粒径分布。

 

　　颗粒粒径分析仪是迄今为止功能zui全、分辨率zui高的颗粒计数及粒度分析仪。粒径分析仪在做粉体测试时，粉体需*分散在*体内，而且要非常稀释，通常粉体的能量是0.1vol%以下。由于粉体相互干扰，或透光强度减弱，测量结果的正确性可能有问题。

 

　　通常使用液体当粉体的分散媒体，如果粉体非常细，有时也用空气当分散媒体。粉体在粒径分析时，*分散在媒体中非常重要，粉体不能集聚在一团，以致仪器误认做单个粉体。通常当粉体分散在媒体中时，都加少量的分散剂，并放在超声波振荡器中充分震荡，使粉体*分散，常用的分散剂是焦磷酸钠，带很多电荷的焦磷酸根吸附于粉体表面，使每颗粉体产生很强的相互排斥力而彼此分开。

 

　　颗粒粒径分析仪所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的zui低检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其zui低检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，颗粒跟踪分析仪可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。

 

　　颗粒分析仪与目前常用的颗粒分析技术相比，不仅能够测定颗粒的大小和数量，还能测量粒子的形状、形态，对于颗粒组成、结构、来源的分析有重要作用。

 

　　颗粒分析仪可以全面客观的反应颗粒的粒径、粒型的全面量化参数，并且可以给出其他分析方法的对应报告结果（沉降法、电阻法、激光法）达到一机多用的作用。该仪器可为微粉、磨料、金刚石、碳化硅、光伏等生产加工企业提供良好的产品质量信息和生产工艺的。

 

　　颗粒分析仪型号量程及性能特点：

 

　　1、全自动激光粒度仪操作简便，测试全程自动化，从分散介质的加入、超声、搅拌、到数据采集、测试输出、清洗等过程均可自动完成。

 

　　2、激光粒度仪采用湿法测试方式，超声、搅拌分散，超声、搅拌时间可自由设定。

 

　　3、粒度仪测试软件设计人性化，界面友好，测试操作即学即会。

 

　　4、粒度仪应用全程米氏散射理论，使测试结果更加真实可信。

 

　　5、颗粒分析仪的浓度指示系统，有效的降低了人为误差对测试结果的影响。

 

　　6、激光粒度分析仪采用自行设计的40路光电探测器，使测试精度更高。

 

　　7、颗粒分析仪提供包括粒径范围、分布百分比、累积百分比、比表面积、平均粒径、分布曲线、累积曲线、D50、D10、D90等全面分析统计结果。

 

　　8、便携式设计，体积更小、重量更轻。

 

　　1）筛分法：筛分法是一种zui传统的粒度测试方法，也是过去zui常用的方法。它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。筛分法分干筛和湿筛两种形式，可以用单个筛子来控制单一粒径颗粒的通过率，也可以用多个筛子叠加起来同时测量多个粒径颗粒的通过率，并计算出百分数。筛分法有手工筛、振动筛、负压筛、全自动筛等多种方式。颗粒能否通过筛几与颗粒的取向和筛分时间等素因素有关，不同的行业有各自的筛分方法标准。

 

　　（2）显微镜法：颗粒粒径分析仪测量与实际颗粒投进面积相同的球形颗粒的直径即等效投影面积直径。包括显微镜、CCD摄像头（或数码像机）、图形采集卡、计算机等部分组成。它的基本工作原理是将显微镜放大后的颗粒图像通过CCD摄像头和图形采集卡传输到计算机中，由计算机对这些图像进行边缘识别等处理，计算出每个颗粒的投影面积，根据等效投影面积原理得出每个颗粒的粒径，再统计出所设定的粒径区间的颗粒的数量，就可以得到粒度分布了。

 

　　由于这种方法单次所测到的颗粒个数较少，对同一个样品可以通过更换视场的方法进行多次测量来提高测试结果的真实性。除了进行粒度测试之外，它还常用来观察和测试颗粒的形貌

 

　　（3）刮板：颗粒粒径分析仪把样品刮到一个平板的表面上，观察粗糙度，以此来评价样品的粒度是否合格。此法是涂料行业采用的一种方法。

 

　　（3）沉降法：依据颗粒的沉降速度作等效对比，所测的粒径为等效沉速径，即用与被测颗粒具有相同沉降速度的同质球形颗粒的直径来代表实际颗粒的大小。有简单的沉降瓶法和按此原理设计的粒度仪。例如一种纳米颗粒粒度分析仪采用的是差示沉淀法进行颗粒粒度的测量和分析。样品被注入到高速旋转的液体中，然后在离心力的作用下，样品被快速沉淀并通过检测头被检测并拾取。因为大小不同的颗粒到达检测头的时间不同，因此通过记录颗粒到达检测头的时间，就可以知道颗粒的大小，

 

　　（4）电阻法：电阻法又叫库尔特法，是由美国一个叫库尔特的人发明的一种粒度测试方法。这种方法是根据颗粒在通过一个小微孔的瞬间，占据了小微孔中的部分空间而排开了小微孔中的导电液体，使小微孔两端的电阻发生变化的原理测试粒度分布的。小孔两端的电阻的大小与颗粒的体积成正比。当不同大小的粒径颗粒连续通过小微孔时，小微孔的两端将连续产生不同大小的电阻信号，通过计算机对这些电阻信号进行处理就可以得到粒度分布了。

 

　　（5）激光衍射：颗粒粒径分析仪利用颗粒对激光的散射特性作等效对比，所测出的等效粒径为等效散射粒径，即用与实际被测颗粒具有相同散射效果的球形颗粒的直径来代表这个实际颗粒的大小。当被测颗粒为球形时，其等效粒径就是它的实际直径。一般认为激光法所测的直径为等效体积径。该方法测定速度快，不过从原理上讲颗粒越小，衍射角越大，因此它可能更适合小颗粒。

 

　　（6）透气法：透气法也叫弗氏法。先将样品装到一个金属管里并压实，将这个金属管安装到一个气路里形成一个闭环气路。颗粒粒径分析仪当气路中的气体流动时，气体将从颗粒的缝隙中穿过。如果样品较粗，颗粒之间的缝隙就大，气体流边所受的阻碍就小；样品较细，颗粒之间的缝隙就小，气体流动所受的阻碍就大。透气法就是根据这样一个原理来测试粒度的。这种方法只能得到一个平均粒度值，不能测量粒度分布。这种方法主要用在磁性材料行业。

 

　　（7）超声波法：通过不同粒径颗粒对超声波产生不同的影响的原理来测量粒度分布的一种方法。它可以直接测试固液比达到70%的高浓度浆料。

 

　　（8）相关法：用光子相关原理测量粒度的一种方法，主要用来测量纳米材料的粒度分布。