这些资料可以让您更直观的了解颗粒粒径分析仪

　　颗粒粒径分析仪是一种测量、呈现和报告特定粒子或者液滴群粒度分布的分析仪。它在工艺开发以及粒子系统质量控制方面起到重要作用，可建立起高效的工艺和取得高质量的最终产品。

 

　　工作原理：

　　动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用技术，粒度可小于1nm。动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。

 

　　测量范围：

　　测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。

 

　　产品特点：

　　1、颗粒粒径分析仪集光学、电路、样品池、超声波分散、搅拌循环、全自动清洗一体化，电脑控制下自动对中。样品在管道内流动的时间短，避免了样品分散后的分层和重新团聚。重复性、稳定性达到国外同类仪器测量水平。

　　2、仪器采用先进的成型工艺，使仪器的结构紧凑合理，即测量单元和进样系统浑然一体，外形美观大方，使用维护方便；采用新的抗干扰技术，使仪器的电气稳定性更好，故障率更低。

　　3、采用串行数据传输方式，可以方便地与各种笔记本电脑、台式电脑连接组成粒度测试系统，*告别了传统的板卡连接方式。

　　4、特别采取了防震、防尘、防潮设计，便于运输和在恶劣环境下工作。

　　5、可预置测试模式：针对各种不同的样品，可预置不同的测试参数组合，使用户能方便地获得可靠、高再现性的测试结果。